製品紹介

ホーム > 製品紹介 > 半導体検査装置

半導体検査装置/ 検査プログラムの作成からテスト治具の調整まで、生産ラインの迅速な立ち上げに貢献する「LSIテスト開発」。

  • ソース･メジャー･ユニット
    ＰＸＩ規格に準拠した多チャンネル高精度ソース・メジャー・ユニット（ＳＭＵ）
    SHSA-101-100 【最大出力電流　100mA】
    SHSA-101-50 【最大出力電流　 50mA】 NEW
    • 最大電圧範囲　±20V
    • 最大電流範囲　±100mA（SHSA-101-100） / ±50mA（SHSA-101-50）
    • 最小計測分解能　61μV、 305pA
    • 4象限出力が可能
    • 充実したアラーム機能により、半導体など向けの検査装置構築に最適
    • PXI トリガを用いて複数モジュール間での同時出力、同時計測が可能
    • LabVIEW 及び Visual C++ に対応したドライバを標準添付
    • CEマーク取得
    製品カタログ (PDF) お問い合わせフォームへ
    Page Top ▲
  • バーンイン装置
    生産現場のニーズに応える高生産性を実現するモニター機。
    BI-1300 【高速低電圧対応機 (マイコン・ASIC) 】
    BI-1400 【高電圧対応機 (自動車IC機) 】
    • バーンインをトータル保証します。(データの保証、バーンインの保証、装置の保証)
    • 明確な環境下での運用が実施できます。
    • モニター機能
    • 高性能ドライバー
    • オンライン運用
    • 時短機能　new
    • 負電源対応 (外部電源)　new
    • 電源スロースタート　new
    製品カタログ (PDF) お問い合わせフォームへ
    Page Top ▲
  • ローコストアナログテスター
    DCテスト、ACテストのいずれにも適用可能な汎用アナログICテスター。
    セミカスタム仕様で多様化するお客様のニーズに対応します。
    AITS-200 (アナログテストシステム)
    • 被試験デバイス（DUT）を4個同時測定
    • ±40V/±2Aまで出力可能な定電圧・定電流源
    • 20MHzの正弦波、矩形波等が出力可能なファンクションジェネレータ
    • パーピン方式（各チャネルごとのグランドセンス機能あり）
    • パーピン、リレー制御などのテスタリソースのAnyPin機能を実現
    • 低価格
    • 省スペース
    • 豊富なデバッグ機能
    • セルフキャリブレーション機能
    製品カタログ (PDF) お問い合わせフォームへ
    Page Top ▲
  • オープンショートチェッカ
    LSIの多ピン化に対応したローコスト版コンパクトテスタ。
    バーンイン検査前後のデバイス選別や出荷前の混入検査などにお使いいただけます。
    AITS-OSL (オープン・ショート・リーク　テストシステム)
    • 1個測で最大2048ピンのデバイスに対応可能
    • 被試験デバイス（DUT)を最大8個動時測定可能
    • プログラム言語の習得が不要
    製品カタログ (PDF) お問い合わせフォームへ
    Page Top ▲