Semiconductor Testing Equipment
半導体検査装置
- 半導体の後工程をメインとした各検査装置をご提供。
- 装置と関連する「検査ボード」「計測制御」「テストアプリケーション」も対応可能。
- お客様の多様なニーズにお応えします。
製品情報
Products
Semiconductor Testing Equipment
Related Products
| 外観 | 機種名 | 機種 | 特徴 |
|---|---|---|---|
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SHSB-2000 (48) | モニターバーンイン装置 |
・1温度ゾーン／4試験ゾーン ・ボード48枚搭載可 (サイズ：450×580 mm) ・温度設定：Rt＋20～＋150℃ |
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SHSB-2000(24) | モニターバーンイン装置 |
・1温度ゾーン／2試験ゾーン ・1ゾーンに対し、4電源を装備 ・ボード24枚搭載可 (サイズ：450×580 mm) ・温度設定：Rt＋20～＋150℃ |
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AITS-OSL | オープンショートテスタ |
・LSI の多ピン化に対応した Low コスト版コンパクトテスタ ・オープン・ショート検査に加えリーク検査も可能 |
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