オープンショートテスタ(多ピン対応)
AITS-OSL

特長

  • LSIの多ピン化に対応したローコスト版コンパクトテスタ
  • 1個測で最大2048ピンのデバイスに対応可能
  • 被試験デバイス(DUT)を最大8個同時測定可能
  • オープン・ショート検査だけでなく、リーク検査も可能
  • 検査するLSIに合わせてピン数をカスタマイズ可能
  • プログラム言語の習得が不要

AITS-OSL

仕様

定電圧・定電流源(VIC/P) チャンネル数 4 ch/ ボード
出力範囲 ±18 V/ ±30 mA
分解能 16 bit
電圧レンジ 2/ 8/ 18 V
電流レンジ 0.03/ 0.3/ 3/ 30 mA
マトリックス ピン数 128 pin/ ボード
同測数※1

標準仕様

4個測

1024 pin

1 DUT × 1024 pin
2 DUT × 512 pin
4 DUT × 256 pin

カスタマイズ

8個測

2048 pin

1 DUT × 2048 pin
2 DUT × 1024 pin
4 DUT × 512 pin
8 DUT × 256 pin
テストヘッド※2 お客様との打合せ
キャリブレーション あり
自己診断※2 外付けの自己診断BOXを使用
外部I/F TTL (ハンドラ/プローバ通信用)
USB 2.0
LAN(10/ 100/ 1000 Base-Tx)
標準仕様4個測 1024 Pin仕様 寸法(W × H × D) 600 × 700※3 × 700
重量 65 kg以下
消費電力 250 VA以下
電源 100 V±10% 50/ 60 Hz

※1 同測数は1/ 2/ 4/ 8個同測の中から選択できます。

※2 テストヘッド、自己診断はオプションです。

※3 寸法の高さは、キャスターを除いた高さです(キャスターを取り付けた場合、70 mm高くなります)。

製品デザイン、仕様は改良のため予告なしに変更する場合がございます。

ご要望に応じ、追加ソフトウェア開発等も承ります。


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